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Artikel-Nr. LEI356121
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GPM3 Planplattenmikrometer
2006 - 2008
Steigert die Genauigkeit der Leica Ingenieurnivelliere NA2 oder NAK2
Das Planplattenmikrometer kann über dem Fernrohrobjektiv aufgesteckt werden. Damit wird das NA2 oder das NAK2 zum perfekten Präzisionsnivellier für Deformationsmessungen oder Industrievermessungen.
Garantie / Monate: 24
Merkmale
- Als Erweiterung des Nivelliers für Präzisionsnivellements und
Kontrollmessungen.
- Bequeme Ablesung über den hellen Glasmassstab.
- Einfache Bedienung dank der Anbringung am Okularende.
Video
Technische Daten
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Standardabweichung für 1km Doppelnivellement
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0,3 mm
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Bequeme Ablesung über den hellen Glasmassstab.
Als Erweiterung des Nivelliers für Präzisionsnivellements und
Kontrollmessungen.